Дорогой Умник!
1. Если я Вам надоел, то нафига Вы со мной общаетесь?
2. Давайте выкладывать. Вы первый: выложите, пожалуйста Вашу работу/патент (ссылку), которой Вы гордитесь. Поскольку Вы сами определили рамки (после моего увольнения), то работа должна быть представлена в журнал после марта 2002 года. Попробуем помериться достоинствами (favor to notacat).
С уважением (надеюсь) Oldi
Блин.. Во первых я уже остыл (извините за горячность), во вторых с ужасом сам для себя констатировал, что последней журнальной публикации в октябре исполнится вот уже десять лет (семь лет назад сменил направление работы). Надо срочно навёрстывать. Надеюсь через пару месяцев наконец закончить статью по новой тематике. Но всё это лирика - сказав А, надо говорить и Б)). Поэтому заморачиваться не буду - выложу списком.
Конечно с уважением)
Вихретоковый способ измерения толщины электропроводящих покрытий и устройство для его осуществления АС СССР №1389389 1986
Вихретоковый способ измерения параметров электропроводящих изделий и устройство для его осуществления АС СССР №1549329 1988
Вихретоковый способ измерения толщины электропроводящих покрытий и устройство для его осуществления АС СССР №1573748 1987
Способ измерения амплитуд вибраций. Пат РФ. №2217706 1998
Способ измерения амплитуд вибраций. Пат РФ. №2217707 1999
Способ установки фиксированных амплитуд вибраций. Пат РФ. №2193166 2000
Измерение малых амплитуд вибраций лазерным виброметром “Измерительная техника”; 1999, №11,с. 29-32
Автоматизированная система измерения вибрационных характеристик малогабаритных узлов; “Измерительная техника”; 1999, №12, с. 41-44
Возможности измерений амплитуд вибраций гетеродинным лазерным виброметром. Измерительная техника”; 2000, №2, с. 32-34
Калибровка датчиков вибрации лазерно-голографическими методами. “Измерительная техника”; 2002, №6, с. 41-43
Определение погрешностей измерения резонансных частот и добротностей по резонансным кривым амплитуд вибраций. “Измерительная техника”; 2003, №3, с. 22-24
О влиянии качания датчиков вибрации на погрешность их калибровки. “Измерительная техника”; 2003, №10, с. 34-35
Применение лазерно-голографических методов для неразрушающего контроля внутриполых ячеистых конструкций ; “Дефектоскопия”; 2002, №9, с.73-78
Лазерная и голографическая интерферометрия при вибрационных исследованиях сложных пространственных конструкций. “Приборы и техника эксперимента”; 2003, №2, с.122-126
«Построение и анализ годографов при исследовании электрофизических параметров объектов с использованием накладных вихретоковых преобразователей». "Дефектоскопия"
; 2013, №10, с. 53-60.
«Измерение толщины токопроводящих покрытий с отстройкой от зазора и электропроводности основания» "Дефектоскопия"; 2016, №5, с.32-36.